2009IEEE电路系统测试与诊断国际会议征稿邀请

时间: 2008-09-03  /  来源:

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尊敬的各位专家、学者

您们好!

ICTD09(2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis ):2009年电路与系统测试与诊断国际学术会议,是由IEEE电路与系统(CAS)协会发起组织并提供资助的国际会议,并得到中国电子学会、中国仪器仪表学会大力支持,该会议将在2009428-29日在中国最佳旅游城市成都市举办,具体会务由电子科技大学承办。该会议收录的论文将由IEEE负责出版,并将由IEEE XploreEI双重收录。

论文投稿截止时间:2008930日,征稿范围如下:


²    ATE/TPS Techniques

²    Next Generation Instruments and Systems

²    Board and System Test and Diagnosis

²    System-on-Chip test

²    RF/MW/MM Test and Instrument

²    Data Acquisition

²    Monitoring, Diagnosis and Prognostics methods

²    Design-for-Test (DFT)

²    BIT/BIST

²    Test Generation

²    Fault Tolerance

²    Mixed-Signal and Analog Test

²    High-Speed Digital Test

²    Fault Model and Fault Simulation

²    Optoelectronics Test

²    Reliability and Design for Reliability

²    Diagnosis for Analog Circuits

²    Test and Diagnosis for Submicron Circuits

²   Test and Diagnosis of Biomedical CAS

²   Other Related Topics


大会主席由美国圣母大学(University of Notre Dame)电子工程系主席教授刘瑞文(Rueywen Liu)教授担任,他是IEEE终生院士,前IEEE CAS主席,被IEEE授予协会技术成就奖,IEEE2000年千年奖和德国最高奖--Alexander von Humboldt研究奖。ICTD09将邀请世界一流学者作主题演讲。ICTD09将为国内外研究电路与系统测试与诊断专家学者提供一个交流的舞台,征文详细内容及其他有关详情请访问http://ictd09.uestc.edu.cn/或发email: ictd@uestc.edu.cn

ICTD09热情欢迎您参与!

附:征稿通知(英文)

          ICTD09组委会

           2008-8-20