IEEE电路与系统测试与诊断国际会议在我校举行

时间: 2009-05-05  /  来源:

        4月28-29日,2009年IEEE电路与系统测试与诊断国际会议(2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis,ICTD09)在我校召开。
        来自中国、美国、印度、塞尔维亚、马来西亚、中国台湾等多个国家或地区近百名学者参加了此次盛会。大会主席由美国圣母大学刘瑞文教授、电子科技大学副校长王厚军教授共同担任。 
        ICTD09是由IEEE电路与系统(CASS)新发起的国际会议,大会主旨是为IC/PCB/系统设计、测试、诊断与可测性设计研究人员提供一个学术交流平台。本次会议由我校自动化工程学院承办。 
       美国圣母大学刘瑞文教授、我校副校长王厚军、我校自动化工程学院院长田书林在开幕式上分别代表IEEE、大会主席和承办单位致词。IC测试专家、IEEE Fellow、美国加州大学K.-T. Tim Cheng教授作“Test's Changing Role in the Late-Silicon Era”特邀报告,电子科大王厚军教授、台湾成功大学刘滨达教授、哈工大彭宇教授分别作了题为“Testability for Electronic System Maintenance – Background, Problem and some ongoing works”、“Creatinine and Neopterin Biosensors for Diagnosis of Renal Function and Cellular Immunity”、“The Development and Future of SOC Test”的大会报告。28日下午进行了2个专题讨论,29日在6个分会场进行了分组报告。